【公開技術講座】 講座紹介・開講スケジュール
日本は「ものづくり大国」といわれながら、近年 欧米やアジア諸国の猛迫によってその優位性はゆらいでいます。この局面に対処するために「ものづくり」の信頼性を有効に高めることが重要とされ、従来の「職人的ものづくり」に加えて、科学技術の知識を踏まえた「未来型ものづくり」のプロフェッショナル人材が求められています。 この公開技術講座は、企業や研究機関の直面するニーズに即対応できる人材育成を目的とし、「半導体電子・光デバイス」「信頼性」の領域において、基礎から専門にわたる体系的知識を吸収したい方に受講をお薦めいたします。
2011年度は、下記講座について開講を予定しています。コースのカリキュラムやスケジュールについては、以下詳細をご確認ください。
メールアドレスを登録いただいた方には、ご希望のテーマに関する講座の開講情報を逐次メールで配信いたしますので、是非ご登録ください。
| 講座受講に関する詳細 | |
|---|---|
| 受講料 | 1講座（90分×4コマ） 4万円 ※お支払は銀行指定口座へのお振込みとなります ※ご希望の方には請求書、領収書を発行いたします |
| 振込先 | みずほ銀行 金沢支店 （普通） 1699170 学校法人 金沢工業大学 ※振込手数料はご負担願います |
| 申込締切 | 各講座開講日の1週間前 |
| 講座案内 |  講座案内（ＰＤＦファイルをダウンロードできます） |
| 開催日程 | 各講座により開始日が異なります、詳細をご確認ください |
| 会場 |
金沢工業大学 東京・虎ノ門キャンパス |
| 講座開始日 | 講座名一覧 |
|---|---|
| 1月11日（水） | 講座A. QC 七つ道具、信頼性七つ道具の基礎 |
| 1月12日（木） | 講座B. 信頼性工学の基礎 |
| 1月13日（金） | 講座C. 加速寿命試験データ解析 |
| 1月16日（月） |
講座D. LSI 故障解析技術 |
| 1月13日（金） | 講座E. Ⅲ－V 族化合物半導体発光デバイスの劣化解析技術 |
⇒1月19日（木） |
講座F. Ⅲ－V 族化合物半導体発光デバイスの劣化解析事例と劣化の抑制方法：基礎編 |
| 1月24日（火） | 講座G. Ⅲ－V族化合物半導体発光デバイスの劣化解析事例と劣化の抑制方法：応用編 |
| 1月19日（木） | 講座H. LSI 製造の基礎 |
| 1月20日（金） | 講座I. GaN 系電子デバイスの結晶欠陥とデバイス特性の相関 |
| 1月26日（木） | 講座J. 光ファイバ通信の基礎 |
| 1月31日（火） | 講座K. 化合物半導体電子デバイス基礎物性、プロセス技術 |
※受講者数が定員に満たない場合はキャンセルとなる場合もあります。予めご了承下さい。
